

隆安
2025-12-19 08:44:08
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷(xiāo)價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢(xún)
紫外老化耐候試驗(yàn)箱價(jià)格受容積、溫度/濕度控制精度、光源類(lèi)型及附加功能影響,價(jià)格區(qū)間為5萬(wàn)-50萬(wàn)元。用戶(hù)需結(jié)合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(如ASTM G154、ISO 4892)、試樣尺寸及負(fù)載需求選型,避免因參數(shù)虛標(biāo)或服務(wù)缺失導(dǎo)致測(cè)試失效。
| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 典型價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-50萬(wàn)元(小型臺(tái)式5-15萬(wàn),中型步入式20-50萬(wàn)) |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 溫度范圍(-20℃~+120℃)、濕度范圍(10%~98%RH)、UV光源類(lèi)型(UVA/UVB) |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | ASTM G154、ISO 4892-3、GB/T |
| 必選附加功能 | 安全聯(lián)鎖、數(shù)據(jù)記錄、遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| 避坑要點(diǎn) | 拒絕無(wú)校準(zhǔn)證書(shū)設(shè)備、核查光源壽命(>3000小時(shí))、要求FAT/SAT驗(yàn)收?qǐng)?bào)告 |
| 參數(shù) | 說(shuō)明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 模擬環(huán)境溫度極限,影響材料熱老化測(cè)試 | -20℃~+120℃(可選擴(kuò)展) |
| 濕度范圍 | 控制濕度對(duì)材料吸濕性影響 | 10%~98%RH(部分型號(hào)支持) |
| UV光源 | UVA(340nm)模擬日光老化,UVB(313nm)加速測(cè)試 | 8支UVA-340燈管(功率40W) |
| 輻照度 | 單位面積光強(qiáng),影響老化速率 | 2@340nm(可調(diào)) |
| 控制精度 | 溫度波動(dòng)±1℃,濕度±3%RH,輻照度±5% | 符合ASTM G154要求 |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Q-SUN XE-3 | RT~120℃ | 10%~90%RH | 3 | ±1℃ | ASTM G154 | 觸摸屏+數(shù)據(jù)導(dǎo)出 | 18萬(wàn)-25萬(wàn) |
| ATLAS UVTest | -20℃~+80℃ | 30%~95%RH | 3 | ± ℃ | ISO 4892-3 | 冷凝循環(huán)+遠(yuǎn)程監(jiān)控 | 35萬(wàn)-45萬(wàn) |
| 本土品牌HT-UV2 | RT~100℃ | 20%~80%RH | 3 | ±2℃ | GB/T | 基礎(chǔ)控制+安全聯(lián)鎖 | 8萬(wàn)-12萬(wàn) |
Q1:紫外老化試驗(yàn)箱能否替代自然暴露測(cè)試?
A1:不能完全替代,但可加速測(cè)試(1周模擬1年自然暴露)。需結(jié)合ASTM D7869標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行相關(guān)性驗(yàn)證。
Q2:如何選擇UV光源類(lèi)型?
A2:UVA-340(340nm)模擬日光光譜,適用于長(zhǎng)期耐候性測(cè)試;UVB-313(313nm)加速老化,適用于快速篩選。
Q3:設(shè)備校準(zhǔn)周期是多久?
A3:每年至少1次,由CNAS認(rèn)可機(jī)構(gòu)(如中國(guó)計(jì)量院)執(zhí)行,校準(zhǔn)項(xiàng)目包括溫度、濕度、輻照度。
Q4:步入式試驗(yàn)箱的能耗是多少?
A4:以2m3型號(hào)為例,滿(mǎn)負(fù)載運(yùn)行時(shí)功率約15kW,日均耗電量約36度(按8小時(shí)計(jì))。
Q5:國(guó)產(chǎn)設(shè)備與進(jìn)口設(shè)備的差距在哪里?
A5:國(guó)產(chǎn)設(shè)備在基礎(chǔ)功能上達(dá)標(biāo),但進(jìn)口設(shè)備(如Q-Lab)在輻照度均勻性(≥90%)、數(shù)據(jù)追溯性上更優(yōu)。
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