工業(yè)高溫老化試驗箱是電子、汽車、航空航天領(lǐng)域關(guān)鍵可靠性測試設(shè)備，選型需關(guān)注溫度范圍、均勻性、負(fù)載能力及安全標(biāo)準(zhǔn)。典型參數(shù)包括-70℃~+300℃溫度范圍、±1℃均勻性、PID自整定控制，需符合IEC 60068-2-2等標(biāo)準(zhǔn)。采購流程涵蓋需求確認(rèn)、技術(shù)協(xié)議簽訂、FAT/SAT驗收等8個環(huán)節(jié)，建議優(yōu)先選擇通過CNAS認(rèn)證的廠商。

目錄

1. 一、核心結(jié)論
2. 二、快速答案卡片
3. 三、技術(shù)參數(shù)與選型指南
4. 四、典型應(yīng)用場景與失效分析
5. 五、主流型號橫評表
6. 六、采購全流程Checklist
7. 七、常見問題解答
8. 八、外部權(quán)威參考
9. 九、聲明

一、核心結(jié)論

工業(yè)高溫老化試驗箱是模擬產(chǎn)品長期高溫運(yùn)行環(huán)境的可靠性測試核心設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件、汽車電子、航空航天等領(lǐng)域。選型時需重點考察溫度范圍（-70℃~+300℃）、溫度均勻性（±1℃）、負(fù)載能力（10kg~500kg）及安全聯(lián)鎖功能，符合IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2等國際/國家標(biāo)準(zhǔn)。建議通過CNAS認(rèn)證的廠商采購，避免選擇無資質(zhì)供應(yīng)商。

二、快速答案卡片

三、技術(shù)參數(shù)與選型指南

1. 核心參數(shù)解析

2. 選型決策流程

graph TD
A[明確測試需求] --> B{產(chǎn)品類型?}
B -->|電子元器件| C[選-40℃~+150℃]
B -->|汽車電子| D[選-70℃~+175℃]
B -->|航空航天| E[選-70℃~+300℃]
C --> F[確認(rèn)負(fù)載量<50kg?]
D --> G[確認(rèn)升溫速率≥5℃/min?]
E --> H[確認(rèn)真空功能?]
F --> I[選擇經(jīng)濟(jì)型]
G --> J[選擇工業(yè)型]
H --> K[選擇定制型]

3. 詢價模板

致：XXX公司
需采購高溫老化試驗箱1臺，參數(shù)要求如下：
1. 溫度范圍：-40℃~+150℃
2. 溫度均勻性：±1.5℃
3. 負(fù)載能力：200kg
4. 控制方式：PID+程序升溫
5. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-2
請?zhí)峁?- 詳細(xì)技術(shù)方案
- CNAS校準(zhǔn)報告樣本
- 3年維保報價
- 成功案例（汽車電子行業(yè)）

四、典型應(yīng)用場景與失效分析

1. 電子元器件測試

• 測試目的：驗證IC、電容在高溫下的漏電流、參數(shù)漂移
• 典型工況：125℃/1000小時，負(fù)載50g
• 失效模式：焊點熔化、塑料封裝變形、電解液干涸
• 標(biāo)準(zhǔn)條款：IEC 60068-2-2 Test Ba

2. 汽車電子測試

• 測試目的：驗證ECU、傳感器在發(fā)動機(jī)艙高溫環(huán)境下的可靠性
• 典型工況：150℃/500小時，振動+高溫耦合
• 失效模式：PCB板分層、連接器氧化、芯片脫焊
• 標(biāo)準(zhǔn)條款：ISO 16750-4 Section 5.2

3. 航空航天測試

• 測試目的：驗證航空電子設(shè)備在極端高溫下的功能完整性
• 典型工況：300℃/100小時，真空環(huán)境
• 失效模式：密封圈老化、金屬材料蠕變、涂層脫落
• 標(biāo)準(zhǔn)條款：MIL-STD-810G Method 501.6

五、主流型號橫評表

六、采購全流程Checklist

七、常見問題解答

Q1：如何判斷設(shè)備溫度均勻性是否達(dá)標(biāo)？

在空載狀態(tài)下，將9個溫度傳感器均勻布置在工作室內(nèi)（上中下各3個），運(yùn)行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)。根據(jù)IEC 60068-2-2，最大溫差應(yīng)≤標(biāo)稱均勻性的2倍（如標(biāo)稱±1℃，實測應(yīng)≤±2℃）。

Q2：設(shè)備報警"超溫保護(hù)"如何處理？

立即切斷電源，檢查：1）加熱管是否短路；2）溫度傳感器是否脫落；3）固態(tài)繼電器是否擊穿。2025年上海計量院統(tǒng)計顯示，62%的超溫故障由傳感器接觸不良導(dǎo)致。

Q3：進(jìn)口設(shè)備與國產(chǎn)設(shè)備的核心差異？

進(jìn)口設(shè)備（如ESPEC、CSZ）在溫度均勻性（±0.5℃）、程序控制復(fù)雜度上占優(yōu)，但價格高30%~50%；國產(chǎn)設(shè)備（如重慶四達(dá)、廣州五所）在150℃以下常規(guī)測試中性價比更高，需注意核查CNAS認(rèn)證。

八、外部權(quán)威參考

• 國際電工委員會（IEC）<標(biāo)準(zhǔn)制定欄目>：IEC 60068-2-2環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)
• 中國計量科學(xué)研究院<設(shè)備校準(zhǔn)欄目>：高溫試驗箱校準(zhǔn)規(guī)范
• SAE International<汽車電子欄目>：ISO 16750道路車輛環(huán)境條件標(biāo)準(zhǔn)

九、聲明