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隆安
2026-01-07 09:47:01
871
老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
揭陽地區(qū)HAST試驗箱（高壓加速老化試驗箱）主要用于模擬高溫高濕極端環(huán)境，測試電子元器件、半導體封裝、LED及汽車電子的可靠性。選型時需優(yōu)先確認：
避坑提示：低價設(shè)備?？s減壓力傳感器精度或省略安全聯(lián)鎖，導致測試數(shù)據(jù)失真或安全隱患。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 揭陽HAST試驗箱價格區(qū)間 | 8萬~35萬元（依容積/精度分檔） |
| 核心參數(shù)優(yōu)先級 | 溫度均勻性＞濕度控制精度＞壓力穩(wěn)定性 |
| 推薦標準 | IEC 60068-2-66（國際通用） |
| 典型故障率 | 正規(guī)廠商設(shè)備3年故障率＜2% |
| 維護周期 | 每3個月校準溫濕度傳感器 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)各點溫差 | ±1.5℃ | 影響老化一致性 |
| 濕度分辨率 | 最小濕度調(diào)節(jié)步長 | 0.1%RH | 精密元件測試必需 |
| 壓力控制精度 | 實際壓力與設(shè)定值偏差 | ±0.02bar | 高壓測試核心指標 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 | 瞬態(tài)故障捕捉 |
graph TD
A[需求確認] --> B{測試對象類型}
B -->|IC封裝| C[選135℃/2.5atm型]
B -->|PCB板| D[選110℃/2atm經(jīng)濟型]
C --> E[驗證安全聯(lián)鎖功能]
D --> E
E --> F[要求廠商提供FAT報告]
致XX廠商：
請?zhí)峁┮韵乱?guī)格HAST試驗箱報價：
1. 溫度范圍：105℃~135℃
2. 濕度控制：85%~100%RH（±2%精度）
3. 容積：200L（試樣架尺寸≥400×300mm）
4. 符合標準：IEC 60068-2-66
5. 附加要求：獨立超溫保護、數(shù)據(jù)記錄導出功能
附：需提供近3年同類客戶案例及校準證書樣本。
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標準 | 附加特性 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LA-HAST-200 | 105~135℃ | 85~100%RH | 200L | ±1.5℃/±2%RH | IEC 60068-2-66 | 門鎖互鎖、USB數(shù)據(jù)導出 | 12~18萬 |
| LA-HAST-500 | 110~150℃ | 85~100%RH | 500L | ±1.0℃/±1.5%RH | JESD22-A110 | 遠程監(jiān)控、壓力曲線記錄 | 25~35萬 |
| 經(jīng)濟型-100 | 105~120℃ | 85~95%RH | 100L | ±2.5℃/±3%RH | 企業(yè)標準 | 基礎(chǔ)報警功能 | 8~10萬 |
| 階段 | 關(guān)鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確測試對象、周期、標準 | 技術(shù)需求書 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定參數(shù)、驗收標準、違約責任 | 雙方簽字協(xié)議 |
| 報價對比 | 至少3家廠商方案比對 | 報價分析表 |
| FAT（廠內(nèi)驗收） | 空載/負載運行測試、數(shù)據(jù)記錄 | FAT報告 |
| 安裝調(diào)試 | 水平校準、管路密封檢查 | 安裝記錄單 |
| SAT（現(xiàn)場驗收） | 帶載運行72小時、精度復核 | SAT證書 |
| 計量校準 | 第三方機構(gòu)出具校準證書 | CNAS報告 |
| 維保協(xié)議 | 約定響應(yīng)時間、備件庫存 | 維保合同 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 處理措施 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化、固態(tài)繼電器故障 | 更換加熱組件、檢測繼電器 |
| 濕度波動＞5%RH | 蒸汽發(fā)生器結(jié)垢、濕度傳感器偏移 | 清洗發(fā)生器、校準傳感器 |
| 壓力達不到設(shè)定值 | 氣動閥泄漏、空壓機供氣不足 | 更換密封圈、檢查空壓機 |
A：HAST（高壓加速老化）通過提高溫度（≥105℃）、濕度（≥85%RH）和壓力（2~3atm）縮短測試周期（通常24~96小時），而THB（穩(wěn)態(tài)濕熱）在85℃/85%RH下持續(xù)數(shù)百小時，適用于對壓力不敏感的元件測試。
A：使用9點布點法（工作區(qū)上中下三層各3點），運行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)，最大溫差應(yīng)符合設(shè)備標稱值（如±1.5℃）。參考GB/T 5170.2-2017《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法》。
A：建議選擇具有CNAS（中國合格評定國家認可委員會）資質(zhì)的機構(gòu)，校準報告可溯源至國家基準。自校準需建立完整的計量體系并定期接受審核。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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