

隆安
2026-01-05 15:42:51
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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紫外光耐試驗(yàn)箱國(guó)標(biāo)(GB/T 16422.3-2025)是材料光老化測(cè)試的核心依據(jù),涵蓋設(shè)備參數(shù)、試驗(yàn)方法及驗(yàn)收規(guī)范。選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度/濕度/輻照度控制精度、容積匹配性及安全聯(lián)鎖功能。采購(gòu)流程應(yīng)遵循技術(shù)協(xié)議確認(rèn)、FAT/SAT驗(yàn)收及定期計(jì)量校準(zhǔn),避免低價(jià)陷阱與參數(shù)虛標(biāo)風(fēng)險(xiǎn)。
| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 現(xiàn)行紫外光耐試驗(yàn)箱國(guó)標(biāo) | GB/T 16422.3-2025《塑料 實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法 第3部分:熒光紫外燈》 |
| 關(guān)鍵參數(shù)范圍 | 溫度:-20℃~100℃;濕度:30%~95%RH;輻照度:0.3~1.5W/(m2·nm) |
| 選型核心指標(biāo) | 控制精度(±1℃)、輻照均勻性(≥85%)、安全聯(lián)鎖功能 |
| 典型故障處理 | 輻照度衰減→更換燈管;溫度波動(dòng)→檢查PID參數(shù)與傳感器 |
根據(jù)全國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 15)2025年發(fā)布的GB/T 16422.3標(biāo)準(zhǔn),紫外光耐試驗(yàn)箱需滿足以下技術(shù)要求:
典型失效機(jī)理:材料在紫外光+濕熱復(fù)合環(huán)境下易發(fā)生光氧化降解、色變及力學(xué)性能衰減,需通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)循環(huán)試驗(yàn)(如8h紫外+4h冷凝)模擬長(zhǎng)期戶外暴露。
| 參數(shù) | 定義 | 國(guó)標(biāo)要求 |
|---|---|---|
| 輻照均勻性 | 工作室內(nèi)各點(diǎn)輻照度偏差 | ≥85%(GB/T 16422.3-2025 5.3) |
| 溫度波動(dòng)度 | 穩(wěn)定狀態(tài)下溫度變化范圍 | ≤±0.5℃(黑標(biāo)溫度) |
| 濕度控制精度 | 冷凝周期濕度偏差 | ≤±3%RH |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | ≥1次/秒 |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Q-SUN XE-3 | -20℃~85℃ | 30%~95%RH | 800L | ±0.5℃ | GB/T 16422.3 | 氙燈切換 |
| ATLAS UVTest | -40℃~100℃ | 20%~98%RH | 1200L | ±1℃ | ASTM D4329 | 多因素耦合 |
| 國(guó)產(chǎn)HT-UV2000 | -10℃~70℃ | 40%~85%RH | 500L | ±1.5℃ | GB/T 16422.3 | 經(jīng)濟(jì)型 |
| 階段 | 關(guān)鍵動(dòng)作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認(rèn) | 明確試樣類(lèi)型、測(cè)試周期、預(yù)算 | 技術(shù)需求書(shū) |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定參數(shù)偏差范圍、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) | 雙方簽字協(xié)議 |
| FAT驗(yàn)收 | 測(cè)試溫度/濕度/輻照度精度 | FAT測(cè)試報(bào)告 |
| 安裝調(diào)試 | 確認(rèn)設(shè)備水平度、接地電阻 | 安裝記錄表 |
| 計(jì)量校準(zhǔn) | 每年一次第三方計(jì)量 | 校準(zhǔn)證書(shū) |
A:使用經(jīng)校準(zhǔn)的輻照計(jì)(如UVA-340波段)在工作室九個(gè)位置測(cè)量,計(jì)算平均值與標(biāo)稱(chēng)值偏差,國(guó)標(biāo)要求≤±5%。
A:優(yōu)先檢查安全聯(lián)鎖觸發(fā)記錄(如門(mén)未關(guān)緊、超溫報(bào)警),其次排查電源穩(wěn)定性(建議配置UPS)。
A:國(guó)產(chǎn)燈管建議≤500h,進(jìn)口燈管(如Q-Lab)可達(dá)1500h,需定期用輻照計(jì)檢測(cè)衰減率。
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中國(guó)電器科學(xué)研究院(CEI)—環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備認(rèn)證
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