

隆安
2026-01-05 15:40:55
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
電路板老化測試箱用于模擬高溫環(huán)境加速電子元件壽命測試,需根據(jù)負(fù)載容量、溫度均勻性、控制精度等參數(shù)選型。正確使用需遵循IEC 60068-2-2等標(biāo)準(zhǔn),通過技術(shù)協(xié)議簽訂、FAT/SAT驗(yàn)收、定期校準(zhǔn)等流程確??煽啃?。選型時(shí)需重點(diǎn)對比溫度范圍、濕度控制、安全聯(lián)鎖等指標(biāo),避免低價(jià)設(shè)備導(dǎo)致的測試偏差風(fēng)險(xiǎn)。
| 核心問題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | 85℃~150℃(依據(jù)IEC 60068-2-2) |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 溫度均勻性±2℃、負(fù)載容量≥500W、控制精度±1℃ |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2 |
| 常見故障 | 加熱管損壞、傳感器漂移、通風(fēng)堵塞 |
電路板高溫老化測試通過加速熱應(yīng)力暴露潛在缺陷,如焊點(diǎn)虛焊、電容漏液、IC封裝開裂。據(jù)中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院2025年報(bào)告,70%的早期失效可通過85℃/48小時(shí)老化測試檢出。
| 參數(shù) | 推薦值 | 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 85℃~150℃ | IEC 60068-2-2 |
| 溫度均勻性 | ±2℃(空載) | GB/T 2423.2 |
| 升溫速率 | 3℃/min~5℃/min | ASTM D5423 |
| 負(fù)載容量 | ≥500W(滿載) | 企業(yè)測試規(guī)范 |
| 控制方式 | PID伺服控制 | JIS C 60068-2-2 |
| 參數(shù) | 定義 | 重要性 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 設(shè)備可達(dá)到的最低/最高溫度 | ★★★★★ |
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)最大溫差 | ★★★★☆ |
| 負(fù)載容量 | 最大可承載功率 | ★★★★☆ |
| 控制精度 | 設(shè)定值與實(shí)際值的偏差 | ★★★☆☆ |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載保護(hù)機(jī)制 | ★★★★★ |
致[廠商名稱]:
請?zhí)峁┮韵滦吞?hào)設(shè)備的技術(shù)參數(shù)及報(bào)價(jià):
1. 溫度范圍:85℃~150℃
2. 均勻性:±2℃(空載)
3. 負(fù)載容量:≥1kW
4. 符合標(biāo)準(zhǔn):IEC 60068-2-2
5. 附加功能:數(shù)據(jù)記錄、遠(yuǎn)程監(jiān)控
要求提供FAT/SAT測試方案及計(jì)量證書樣本。
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度控制 | 容積 | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn) | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 愛斯佩克 | RT~180℃ | 10%~98%RH | 800L | ±1℃ | IEC/GB | ¥25萬~35萬 |
| 偉思富奇 | RT~150℃ | 無 | 500L | ±2℃ | ASTM | ¥18萬~22萬 |
| 國產(chǎn)A型 | RT~120℃ | 無 | 300L | ±3℃ | GB | ¥8萬~12萬 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化 | 更換1000W/220V加熱組件 |
| 溫度波動(dòng)>±3℃ | 傳感器偏移 | 重新校準(zhǔn)PT100傳感器 |
| 頻繁跳閘 | 通風(fēng)口堵塞 | 清理進(jìn)氣濾網(wǎng)(每月一次) |
| 項(xiàng)目 | 周期 | 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|
| 傳感器校準(zhǔn) | 每年一次 | CNAS-CL01 |
| 加熱管檢測 | 每兩年一次 | GB/T 19022 |
| 安全聯(lián)鎖測試 | 每季度一次 | ISO 17025 |
在空載狀態(tài)下,將9個(gè)溫度傳感器均勻布置于工作區(qū)(上中下各3點(diǎn)),運(yùn)行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù),最大差值應(yīng)≤±2℃(依據(jù)GB/T 2423.2-2008)。
常規(guī)消費(fèi)電子產(chǎn)品推薦48~96小時(shí)(85℃),汽車電子需執(zhí)行1008小時(shí)(125℃)的HALT測試,具體時(shí)長參考產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范。
① 溫度控制精度不足導(dǎo)致測試無效;② 缺乏安全聯(lián)鎖引發(fā)火災(zāi);③ 材質(zhì)不耐高溫造成設(shè)備自身損壞。建議避免采購無CNAS認(rèn)證的廠商產(chǎn)品。
中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院《電子元器件高溫老化測試白皮書(2025)》,全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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