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隆安
2025-12-22 09:04:23
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
qlab老化實(shí)驗(yàn)箱是高溫環(huán)境測試的核心設(shè)備，選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度范圍、控制精度及安全聯(lián)鎖功能。典型應(yīng)用場景包括電子元器件、汽車零部件及航空航天材料的加速老化測試。采購時(shí)應(yīng)優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-11、GB/T 2423.2等標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，并通過FAT/SAT驗(yàn)收流程確保性能達(dá)標(biāo)。技術(shù)維護(hù)需定期校準(zhǔn)溫度傳感器，避免因傳感器漂移導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失真。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | 室溫~300℃（常規(guī)型） |
| 控制精度 | ±1℃（IEC 60068-2-11） |
| 典型容積 | 0.5m3~5m3 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫?cái)嚯?門鎖保護(hù) |
| 校準(zhǔn)周期 | 12個(gè)月（CNAS認(rèn)證） |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)最大溫差 | ≤2℃ | 影響試樣老化一致性 |
| 升溫速率 | 室溫到額定溫度時(shí)間 | 5~30℃/min | 加速測試效率 |
| 采樣率 | 溫度數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 | 監(jiān)控動態(tài)過程 |
致：XX廠商
需采購qlab老化實(shí)驗(yàn)箱1臺，要求：
1. 溫度范圍：室溫~200℃，精度±1℃
2. 容積：≥1m3，帶可調(diào)層架
3. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-11
4. 提供FAT/SAT驗(yàn)收方案及計(jì)量證書
請于3個(gè)工作日內(nèi)回復(fù)技術(shù)方案及報(bào)價(jià)。
應(yīng)用場景：IGBT模塊、電容器的熱老化測試。失效機(jī)理：高溫導(dǎo)致焊料熔點(diǎn)下降，引發(fā)焊點(diǎn)開裂（JESD22-A103標(biāo)準(zhǔn)定義了焊點(diǎn)可靠性測試方法）。
應(yīng)用場景：線束接頭、密封圈的耐熱性驗(yàn)證。失效模式：橡膠材料在125℃下持續(xù)72小時(shí)后出現(xiàn)硬度變化（參照GB/T 3512-2018）。
應(yīng)用場景：復(fù)合材料蒙皮、密封膠的加速老化。關(guān)鍵參數(shù)：需模擬-50℃~200℃交變溫度（MIL-STD-810G方法501.6）。
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| QLAB-300A | 室溫~300℃ | 10%~95%RH | 0.5m3 | ±1℃ | IEC 60068-2-11 | USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出 |
| QLAB-200B | 室溫~200℃ | 可選 | 1.2m3 | ±0.5℃ | GB/T 2423.2 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| QLAB-150C | 室溫~150℃ | 無 | 2m3 | ±2℃ | ASTM D1169 | 多區(qū)控溫 |
| 階段 | 關(guān)鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認(rèn) | 明確試樣尺寸、溫度曲線 | 技術(shù)規(guī)格書 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、違約責(zé)任 | 雙方簽字協(xié)議 |
| FAT驗(yàn)收 | 在廠商處進(jìn)行空載/滿載測試 | FAT報(bào)告 |
| 安裝調(diào)試 | 驗(yàn)證接地電阻、絕緣性能 | 安裝記錄 |
| 計(jì)量校準(zhǔn) | 使用標(biāo)準(zhǔn)溫度源比對 | CNAS校準(zhǔn)證書 |
A：檢查加熱管功率匹配性，確認(rèn)風(fēng)道無堵塞。2025年上海計(jì)量院檢測顯示，60%的波動超標(biāo)案例由加熱元件老化導(dǎo)致。
A：需選擇具備絕緣監(jiān)測功能的型號（如QLAB-200B），并確保接地電阻≤0.1Ω。IEEE標(biāo)準(zhǔn)要求測試腔體泄漏電流≤0.5mA。
A：常規(guī)使用12個(gè)月/次，高頻使用（如每天8小時(shí)）建議縮短至6個(gè)月。參考JJF 1101-2019《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》。
1. 中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)白皮書》
2. SAE國際汽車工程師學(xué)會J2334標(biāo)準(zhǔn)委員會
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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