

隆安
2025-12-18 08:42:47
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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電子廠必須配置高低溫試驗箱以驗證產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性。該設(shè)備用于模擬極端溫度條件,檢測電子元器件、PCB板、整機在-70℃至+150℃范圍內(nèi)的性能穩(wěn)定性,避免因熱應(yīng)力導(dǎo)致的焊點開裂、材料形變、參數(shù)漂移等失效。選型需重點關(guān)注溫度范圍、均勻性、負載能力及安全標準,采購流程需包含技術(shù)協(xié)議簽訂、FAT/SAT測試及計量校準。
電子廠需配置高低溫試驗箱以實現(xiàn)產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性驗證。該設(shè)備通過模擬極端溫度條件(如-70℃至+150℃),檢測電子元器件、PCB板及整機在熱應(yīng)力下的性能穩(wěn)定性,避免因溫度循環(huán)導(dǎo)致的焊點開裂、材料形變、參數(shù)漂移等失效。選型時需重點關(guān)注溫度范圍、均勻性、負載能力及安全標準,采購流程需包含技術(shù)協(xié)議簽訂、FAT/SAT測試及計量校準。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 電子廠是否需要高低溫試驗箱? | 必須配置,用于驗證產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性 |
| 核心選型參數(shù)? | 溫度范圍、均勻性、負載能力、安全標準 |
| 典型價格區(qū)間? | 5萬–50萬元(依容積與精度) |
| 關(guān)鍵標準? | GB/T 2423.1-2008、IEC 60068-2-1 |
電子元器件在溫度循環(huán)中易產(chǎn)生熱應(yīng)力,導(dǎo)致:
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 設(shè)備可達到的最低/最高溫度 | -70℃至+150℃ |
| 均勻性 | 工作室內(nèi)各點溫度差值 | ≤±2℃(空載) |
| 負載能力 | 設(shè)備可容納的最大試樣質(zhì)量 | 5kg–500kg |
| 控制精度 | 設(shè)定值與實際值的偏差 | ±0.5℃ |
致:XXX公司
需采購高低溫試驗箱1臺,參數(shù)要求如下:
1. 溫度范圍:-70℃至+150℃
2. 容積:1m3
3. 均勻性:≤±2℃(空載)
4. 符合標準:GB/T 2423.1-2008
請于3個工作日內(nèi)提供技術(shù)方案及報價。
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 愛斯佩克 | -70℃至+180℃ | 10%–98%RH | 0.1–2m3 | ±0.3℃ | IEC 60068 | 遠程監(jiān)控 |
| 韋爾福 | -80℃至+150℃ | 20%–95%RH | 0.5–5m3 | ±0.5℃ | GB/T 2423 | 爆炸防護 |
| 科明 | -60℃至+120℃ | 15%–90%RH | 0.2–1m3 | ±1℃ | MIL-STD-810 | 數(shù)據(jù)追溯 |
| 項目 | 周期 | 標準 |
|---|---|---|
| 制冷劑壓力檢測 | 每半年 | R404A壓力1.2–1.5MPa |
| 傳感器校準 | 每年 | 使用Fluke 9132校準儀 |
| 安全聯(lián)鎖測試 | 每季度 | 門鎖失效時立即切斷電源 |
是。依據(jù)GB/T 2423.1-2008標準,所有出口電子產(chǎn)品需通過-40℃至+85℃環(huán)境測試,否則可能遭遇海外客戶索賠。例如,2025年某手機廠商因未進行冷熱沖擊測試,導(dǎo)致北美市場返修率激增37%。
按試樣尺寸計算:單板測試選0.2m3設(shè)備,整機測試需≥1m3。需預(yù)留20%空間用于空氣循環(huán),例如測試500mm×500mm PCB時,設(shè)備內(nèi)腔尺寸應(yīng)≥700mm×700mm。
進口設(shè)備(如德國Binder)溫度均勻性可達±0.3℃,但價格是國產(chǎn)的2–3倍。國產(chǎn)設(shè)備(如科明)在-70℃以下低溫段穩(wěn)定性稍弱,但滿足90%的工業(yè)測試需求。
依據(jù)JJF 1101-2019標準,溫度類設(shè)備每年校準1次。若設(shè)備用于軍工產(chǎn)品測試,需縮短至每半年1次,并使用二等標準鉑電阻溫度計作為計量標準器。
核查供應(yīng)商資質(zhì):要求提供CNAS實驗室認可證書及軍工產(chǎn)品承制單位資格證。拒絕“低價中標”策略,某廠商曾以20萬元低價中標,但設(shè)備在-50℃時失控,導(dǎo)致客戶產(chǎn)品批量報廢。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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