

隆安
2025-12-12 14:02:43
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
環(huán)境試驗(yàn)箱技術(shù)已形成以溫度/濕度/振動(dòng)復(fù)合試驗(yàn)為核心的技術(shù)體系,關(guān)鍵參數(shù)包括溫度范圍(-70℃~+300℃)、濕度控制(10%~98%RH)、控制精度(±0.5℃/±2%RH)。選型需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸及標(biāo)準(zhǔn)要求,推薦優(yōu)先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備。采購(gòu)流程需嚴(yán)格把控技術(shù)協(xié)議、FAT/SAT驗(yàn)收及計(jì)量校準(zhǔn)環(huán)節(jié),避免因參數(shù)虛標(biāo)或維護(hù)缺失導(dǎo)致試驗(yàn)失效。
| 核心參數(shù) | 推薦范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù) |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+300℃ | GB/T 2423.2 |
| 濕度控制 | 10%~98%RH | IEC 60068-2-78 |
| 控制精度 | ±0.5℃/±2%RH | ASTM D4332 |
| 典型負(fù)載 | ≤50kg(標(biāo)準(zhǔn)試樣) | MIL-STD-810G |
環(huán)境試驗(yàn)箱的核心功能是模擬溫度、濕度、振動(dòng)等復(fù)合環(huán)境,驗(yàn)證產(chǎn)品在極端工況下的可靠性。其技術(shù)參數(shù)直接影響試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性:
致:XX廠商 需采購(gòu)環(huán)境試驗(yàn)箱1臺(tái),要求如下: 1. 溫度范圍:-40℃~+150℃,濕度范圍:20%~98%RH; 2. 試樣尺寸:800mm×600mm×500mm,負(fù)載重量≤100kg; 3. 符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.22、IEC 60068-2-30; 4. 提供FAT/SAT測(cè)試報(bào)告及計(jì)量證書。 請(qǐng)于3個(gè)工作日內(nèi)回復(fù)技術(shù)方案及報(bào)價(jià)。
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 附加特性 | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|
| 隆安老化 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | ±0.3℃/±1.5%RH | 振動(dòng)耦合、遠(yuǎn)程診斷 | 35萬(wàn)~60萬(wàn) |
| ESPEC | -80℃~+200℃ | 5%~98%RH | ±0.5℃/±2%RH | 多段程序控制 | 50萬(wàn)~80萬(wàn) |
| CSZ | -40℃~+150℃ | 15%~95%RH | ±1℃/±3%RH | 數(shù)據(jù)追溯系統(tǒng) | 28萬(wàn)~45萬(wàn) |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動(dòng)超標(biāo) | 加熱管老化、傳感器偏移 | 更換加熱管,重新校準(zhǔn)傳感器 |
| 濕度無(wú)法達(dá)到設(shè)定值 | 加濕器結(jié)垢、排水管堵塞 | 清洗加濕器,疏通排水管 |
| 設(shè)備頻繁跳閘 | 線路短路、負(fù)載過(guò)重 | 檢查線路絕緣,減少試樣數(shù)量 |
A:要求廠商提供CNAS認(rèn)證的校準(zhǔn)證書,并核對(duì)證書中的溫度/濕度測(cè)量點(diǎn)與標(biāo)準(zhǔn)要求是否一致。例如,GB/T 2423.2規(guī)定高溫試驗(yàn)需在設(shè)備工作空間中心點(diǎn)測(cè)量。
A:不建議采購(gòu)二手設(shè)備。2025年某企業(yè)購(gòu)入二手試驗(yàn)箱,因溫控系統(tǒng)老化導(dǎo)致試驗(yàn)數(shù)據(jù)偏差超15%,最終產(chǎn)品出廠后失效率激增。
A:進(jìn)口設(shè)備(如ESPEC)在低溫控制(-80℃以下)和長(zhǎng)期穩(wěn)定性上更優(yōu),但價(jià)格高30%~50%;國(guó)產(chǎn)設(shè)備(如隆安)在性價(jià)比和本地化服務(wù)上更具優(yōu)勢(shì)。
數(shù)據(jù)來(lái)源:中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》(2025版)、IEC國(guó)際電工委員會(huì)TC 112技術(shù)報(bào)告。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請(qǐng)您向我說(shuō)明測(cè)試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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