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隆安
2025-12-12 13:52:58
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
抽屜老化柜是高溫環(huán)境模擬測試的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度均勻性（±2℃內(nèi)）、負(fù)載容量（≥10kg/抽屜）、安全聯(lián)鎖功能及符合IEC 60068/GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)。工程師需通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)邊界，驗收時核查溫度偏差、采樣率（≥1次/秒）及報警響應(yīng)時間（≤3秒）。避免選擇無CE認(rèn)證或未提供FAT（工廠驗收測試）報告的廠商，優(yōu)先選擇提供3年維保且故障率≤0.5%/年的設(shè)備。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+300℃ |
| 濕度范圍 | 10%~98%RH（可選） |
| 溫度均勻性 | ±2℃（空載） |
| 負(fù)載容量 | ≥10kg/抽屜 |
| 控制精度 | ±0.5℃ |
| 安全標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-1/GB/T 2423.2 |
抽屜老化柜主要用于電子元器件（如IC、電容）、汽車零部件（如連接器、傳感器）及軍工產(chǎn)品的高溫加速老化測試，模擬產(chǎn)品在實際使用中的熱應(yīng)力失效機理（如焊點虛焊、材料氧化）。根據(jù)IEC 60068-2-1標(biāo)準(zhǔn)，測試需覆蓋產(chǎn)品生命周期的極端溫度條件。
| 參數(shù) | 定義 | 推薦值 | 失效邊界 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 腔體內(nèi)各點溫度與設(shè)定值的偏差 | ±2℃（空載） | ＞±5℃導(dǎo)致測試無效 |
| 負(fù)載容量 | 單抽屜可承載的最大質(zhì)量 | ≥10kg | 超載引發(fā)溫度漂移 |
| 控制方式 | PID伺服控制 vs 液壓控制 | PID伺服（精度更高） | 液壓控制滯后＞3秒 |
| 采樣率 | 溫度數(shù)據(jù)采集頻率 | ≥1次/秒 | ＜0.5次/秒丟失瞬態(tài)數(shù)據(jù) |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載/開門報警 | 必須具備 | 無聯(lián)鎖引發(fā)火災(zāi)風(fēng)險 |
致XX廠商： 請?zhí)峁┮韵滦畔ⅲ?1. 溫度范圍及均勻性證書（第三方檢測） 2. 負(fù)載容量與抽屜材質(zhì)（鋁/不銹鋼） 3. 控制方式（PID參數(shù)可調(diào)范圍） 4. 維保條款（響應(yīng)時間≤24小時）
要求溫度范圍-55℃~+150℃，濕度控制（20%~80%RH），需符合GJB 150.3A標(biāo)準(zhǔn)。典型參數(shù)：溫度波動≤±1℃，升溫速率≥3℃/min。
重點關(guān)注溫度循環(huán)測試（-40℃~+125℃，1000次循環(huán)），需配備獨立風(fēng)道防止交叉污染。典型參數(shù)：溫度均勻性±3℃，負(fù)載容量≥15kg。
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 愛斯佩克 | -70℃~+300℃ | 10%~98%RH | ±0.3℃ | IEC 60068 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | ￥80萬~120萬 |
| 偉思富奇 | -40℃~+180℃ | 20%~80%RH | ±0.5℃ | GB/T 2423 | 數(shù)據(jù)追溯 | ￥60萬~90萬 |
| 國產(chǎn)XX | -20℃~+150℃ | 無 | ±2℃ | 企業(yè)標(biāo)準(zhǔn) | 無 | ￥30萬~50萬 |
可能原因：風(fēng)道堵塞、加熱管老化、PID參數(shù)失調(diào)。解決方案：清理風(fēng)道、更換加熱管、重新調(diào)試PID（比例帶建議設(shè)為50%~70%）。
計算方法：單抽屜有效尺寸（長×寬×高）需大于測試對象尺寸的1.2倍。例如測試100mm×100mm PCB板，推薦選擇抽屜內(nèi)尺寸≥150mm×150mm×50mm的設(shè)備。
參考MTBF（平均無故障時間）數(shù)據(jù)，優(yōu)先選擇MTBF≥5000小時的設(shè)備。可通過廠商提供的維保記錄（如2025年某品牌故障率統(tǒng)計為0.3%/年）輔助判斷。
若測試對象為金屬件或純高溫老化，可省略濕度控制；若為電子元器件（如電容），需選擇濕度范圍10%~98%RH的設(shè)備，以模擬潮濕環(huán)境下的腐蝕失效。
避坑指南： 1. 拒絕無CE認(rèn)證的設(shè)備（風(fēng)險：電氣安全不達(dá)標(biāo)）。 2. 核查廠商資質(zhì)（如ISO 9001認(rèn)證、高新技術(shù)企業(yè)證書）。 3. 要求提供FAT測試視頻（驗證實際性能）。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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