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隆安
2025-12-03 09:09:41
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
高溫反向耐壓試驗箱是電子元器件、半導體及電力設備可靠性測試的核心設備，選型需重點關注溫度范圍（≥200℃）、控制精度（±1℃）、負載能力（≥10kV）及安全聯(lián)鎖功能。用戶應通過GB/T 2423.2-2008、IEC 60068-2-2等標準驗證設備合規(guī)性，優(yōu)先選擇提供FAT/SAT驗收及計量校準服務的廠商。采購流程需明確技術協(xié)議條款，避免低價陷阱。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | RT~300℃（常規(guī)） |
| 反向耐壓 | 1~20kV（可選） |
| 控制精度 | ±1℃（溫度） |
| 符合標準 | GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過壓自動斷電 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 選型依據(jù) |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱內可調最高溫 | RT~300℃ | 根據(jù)試樣材料耐溫極限+10%余量 |
| 反向耐壓 | 試樣承受反向電壓能力 | 1~20kV | 試樣額定電壓×1.5倍安全系數(shù) |
| 控制精度 | 實際值與設定值偏差 | ±1℃ | 半導體測試需≤±2℃，軍工級≤±0.5℃ |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 | 瞬態(tài)失效分析需≥10次/秒 |
致XX廠商：
需采購高溫反向耐壓試驗箱1臺，要求：
1. 溫度范圍：RT~250℃，精度±1℃
2. 反向耐壓：0~15kV可調
3. 容積：≥0.5m3
4. 符合標準：IEC 60068-2-2
請?zhí)峁┘夹g方案、報價及FAT/SAT驗收條款。
場景：IGBT模塊、二極管的高溫反向偏壓（HRB）測試
工況：175℃下施加12kV反向電壓，持續(xù)1000小時
失效機理：金屬-半導體界面擴散導致漏電流增加
場景：高壓電纜接頭絕緣性能測試
工況：230℃下模擬10kV工頻電壓，檢測局部放電
標準依據(jù)：DL/T 596-2025《電力設備預防性試驗規(guī)程》
場景：陶瓷基復合材料高溫絕緣測試
工況：300℃下測量體積電阻率
特殊要求：氮氣保護環(huán)境，氧含量≤50ppm
| 廠商 | 型號 | 溫度范圍 | 反向耐壓 | 控制精度 | 安全聯(lián)鎖 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安 | LA-HRB-300 | RT~300℃ | 0~20kV | ±0.5℃ | 三級報警 | ￥45萬~60萬 |
| 艾德克斯 | IT6000B | RT~250℃ | 0~15kV | ±1℃ | 雙回路保護 | ￥38萬~52萬 |
| 菊水 | PWR8000H | RT~200℃ | 0~10kV | ±2℃ | 基礎聯(lián)鎖 | ￥28萬~40萬 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動＞±2℃ | 加熱管老化 | 更換PTC陶瓷加熱器 |
| 反向耐壓不穩(wěn)定 | 高壓模塊電容衰減 | 校準高壓發(fā)生器 |
| 急停后無法重啟 | 安全繼電器卡死 | 更換OMRON G7SA繼電器 |
| 階段 | 關鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確試樣尺寸、測試標準、預算 | 技術規(guī)格書 |
| 技術協(xié)議 | 約定驗收標準、違約責任、培訓條款 | 雙簽協(xié)議 |
| FAT驗收 | 在廠商處驗證空載/滿載性能 | FAT報告 |
| 安裝調試 | 檢查水平度（≤0.2mm/m）、接地 | 調試記錄 |
| 計量校準 | 委托第三方機構（如CMA認證實驗室） | 校準證書 |
A：根據(jù)JEDEC JESD22-A113標準，功率器件測試需≤5℃/min。隆安LA-HRB-300型通過伺服控制實現(xiàn)1~10℃/min可調，避免熱應力導致測試偏差。
A：優(yōu)質設備應配置UPS不間斷電源（如艾德克斯IT6000B標配30分鐘續(xù)航），同時安全聯(lián)鎖系統(tǒng)需在斷電后自動鎖定門禁，防止誤操作。
A：當測試含揮發(fā)性物質試樣時（如環(huán)氧樹脂固化），需加裝活性炭過濾裝置。菊水PWR8000H可選配VOC處理模塊，滿足EPA排放標準。
1. 中國電器科學研究院 - 《環(huán)境試驗設備校準規(guī)范》
2. IEEE標準協(xié)會 - IEEE 1101.10-2025《電子設備高溫測試方法》
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