

隆安
2025-12-03 09:02:12
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
高低溫試驗(yàn)箱開機(jī)時(shí)間直接影響測試效率與設(shè)備壽命,需根據(jù)負(fù)載類型、溫度范圍、控制精度等參數(shù)選型。典型工況下,空載設(shè)備達(dá)到設(shè)定溫度需30-90分鐘,滿載時(shí)延長至60-180分鐘。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-1標(biāo)準(zhǔn)、具備安全聯(lián)鎖功能的設(shè)備,并通過FAT/SAT驗(yàn)收確保性能達(dá)標(biāo)。
| 核心參數(shù) | 典型值 |
|---|---|
| 空載升溫時(shí)間(-70℃→+150℃) | ≤90分鐘 |
| 滿載降溫時(shí)間(+150℃→-70℃) | ≤180分鐘 |
| 溫度均勻性 | ±2℃(IEC 60068-2-1) |
| 控制精度 | ±0.5℃(伺服控制) |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載/漏電保護(hù) |
高低溫試驗(yàn)箱開機(jī)時(shí)間由設(shè)備性能、負(fù)載類型及環(huán)境條件共同決定。典型工況下,空載設(shè)備從室溫升至+150℃需60-90分鐘,降至-70℃需90-120分鐘;滿載時(shí)因試樣熱容增加,時(shí)間延長30%-50%。
| 參數(shù) | 說明 | 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù) |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | -80℃~+300℃(工業(yè)級(jí)) | IEC 60068-2-1 |
| 升溫速率 | 3℃/min(典型值) | GB/T 2423.2 |
| 控制方式 | 伺服PID控制優(yōu)于液壓控制 | ASTM D4169 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫自動(dòng)斷電、門鎖保護(hù) | ISO 13849 |
實(shí)操建議:測試電子元件時(shí),優(yōu)先選擇分辨率0.1℃、采樣率≥10次/秒的設(shè)備,避免溫度過沖導(dǎo)致元件失效。
致供應(yīng)商: 請?zhí)峁┮韵乱?guī)格設(shè)備報(bào)價(jià): 1. 溫度范圍:-70℃~+180℃ 2. 容積:1m3(試樣架尺寸≥800×600×500mm) 3. 控制精度:±1℃ 4. 符合標(biāo)準(zhǔn):IEC 60068-2-1/GB/T 2423 5. 附加功能:遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)記錄
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn) | 價(jià)格(萬元) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 愛斯佩克 | -80℃~+180℃ | 10%~98%RH | 0.5m3 | ±0.5℃ | IEC/GB | 25-35 |
| 偉思富奇 | -70℃~+150℃ | 20%~95%RH | 1m3 | ±1℃ | ASTM | 40-50 |
| 國產(chǎn)某品牌 | -60℃~+120℃ | 30%~85%RH | 0.8m3 | ±2℃ | GB | 12-18 |
| 項(xiàng)目 | 周期 | 標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|
| 冷凝器清潔 | 每季度 | GB/T 34120 |
| 傳感器校準(zhǔn) | 每年 | JJF 1101 |
| 安全聯(lián)鎖測試 | 每半年 | ISO 13849 |
A:選擇雙壓縮機(jī)系統(tǒng)(制冷量提升40%)、預(yù)冷試樣至接近設(shè)定溫度,避免滿載啟動(dòng)。
A:若測試標(biāo)準(zhǔn)包含ASTM/ISO條款,進(jìn)口設(shè)備(如偉思富奇)的合規(guī)性更優(yōu);國產(chǎn)設(shè)備可滿足GB標(biāo)準(zhǔn),成本降低50%以上。
A:工業(yè)級(jí)設(shè)備噪音應(yīng)≤65dB(A),符合GB/T 14574標(biāo)準(zhǔn),超標(biāo)需檢查壓縮機(jī)固定與風(fēng)道設(shè)計(jì)。
A:測試電子元件時(shí),濕度控制可避免冷凝短路;金屬材料腐蝕試驗(yàn)需濕度≥85%RH,建議選擇溫濕度一體機(jī)。
A:按IEC 60068-2-1標(biāo)準(zhǔn),在空載狀態(tài)下布置9個(gè)測溫點(diǎn),運(yùn)行穩(wěn)定后記錄數(shù)據(jù),最大偏差應(yīng)≤±2℃。
外部參考:中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》(JJF 1101-2019)、國際電工委員會(huì)(IEC)TC 101環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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