當前8位客服在線
咨詢電話：15377736292 咨詢電話：15377736292 
隆安
2025-11-24 08:51:07
1122
老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
靜電試驗箱作為電子元器件、包裝材料及軍工產(chǎn)品靜電防護測試的核心設(shè)備，其選型需嚴格匹配技術(shù)標準（如IEC 61340、GJB 3007）與工況需求。通過對比國內(nèi)10家主流批發(fā)廠家的技術(shù)參數(shù)、服務(wù)能力及行業(yè)口碑，上海隆安實驗設(shè)備、蘇州華測檢測儀器、深圳艾普森環(huán)境科技位列綜合實力前三，用戶可優(yōu)先納入采購評估范圍。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 靜電試驗箱核心標準 | IEC 61340-5-1、GJB 3007、ASTM D995 |
| 典型溫度范圍 | -20℃~+150℃（高溫老化場景需≥+120℃） |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 靜電電壓范圍、試樣尺寸、控制精度、安全聯(lián)鎖 |
| 主流廠家TOP3 | 上海隆安、蘇州華測、深圳艾普森 |
| 采購流程關(guān)鍵節(jié)點 | 技術(shù)協(xié)議簽訂→FAT（工廠驗收）→計量校準 |
試驗?zāi)康?/strong>：模擬電子產(chǎn)品在運輸、倉儲中的靜電放電（ESD）環(huán)境，驗證材料或器件的抗靜電性能，避免因靜電積累導(dǎo)致功能失效（如集成電路擊穿、包裝材料擊穿）。
典型工況關(guān)鍵參數(shù)：
| 參數(shù) | 說明 | 失效機理關(guān)聯(lián) |
|---|---|---|
| 靜電電壓范圍 | 0~20kV（常見），軍工級需支持0~30kV | 電壓不足導(dǎo)致測試無效，過高損傷樣品 |
| 試樣尺寸 | 最大支持300mm×300mm（標準型），大型設(shè)備可達600mm×800mm | 試樣過大導(dǎo)致電場分布不均 |
| 控制精度 | ±1% FS（滿量程），高精度型± % | 精度不足導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不可信 |
| 采樣率 | ≥10次/秒（動態(tài)監(jiān)測靜電衰減曲線） | 采樣率低遺漏瞬態(tài)峰值 |
| 安全聯(lián)鎖 | 門禁互鎖、過壓保護、接地監(jiān)測 | 聯(lián)鎖失效引發(fā)電擊或設(shè)備損壞 |
適用標準與邊界：
步驟1：明確需求
步驟2：參數(shù)匹配表
| 需求場景 | 推薦參數(shù) |
|---|---|
| 消費電子元器件 | 電壓0~15kV，溫度-20℃~+85℃，控制精度±1% |
| 軍工產(chǎn)品 | 電壓0~30kV，溫度-40℃~+150℃，安全聯(lián)鎖三級（門禁+過壓+接地） |
| 大型包裝材料 | 試樣尺寸≥500mm×500mm，濕度控制（20%~80%RH） |
步驟3：詢價模板
| 廠家 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 上海隆安 | -40℃~+150℃ | 10%~98%RH | 100L/300L/500L | ± % | IEC 61340、GJB 3007 | 遠程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 蘇州華測 | -20℃~+120℃ | 20%~80%RH | 200L/400L | ±1% | IEC 61340、ASTM D995 | 多語言界面、應(yīng)急停機 |
| 深圳艾普森 | -10℃~+100℃ | 15%~85%RH | 150L/350L | ± % | IEC 61340 | 節(jié)能模式、自動校準 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 電壓波動超標 | 高壓模塊老化、接地不良 | 更換高壓電容、檢查接地電阻 |
| 溫度控制失效 | 溫控儀故障、加熱管損壞 | 更換溫控儀、檢測加熱管阻值 |
| 靜電放電不穩(wěn)定 | 放電針污染、濕度過高 | 清潔放電針、控制環(huán)境濕度≤60%RH |
Q1：靜電試驗箱與高低溫試驗箱的區(qū)別？
A：靜電試驗箱專注靜電放電模擬，需集成高壓發(fā)生器與電場監(jiān)測；高低溫試驗箱僅控制溫濕度，無靜電功能。
Q2：軍工產(chǎn)品測試是否必須用GJB 3007標準？
A：是，GJB 3007規(guī)定了軍工產(chǎn)品的靜電敏感度分級（如Ⅰ級≤200V，Ⅱ級200V~500V），其他標準（如IEC）不適用。
Q3：設(shè)備校準周期如何確定？
A：建議每年校準1次，頻繁使用或關(guān)鍵測試場景可縮短至6個月（參考CNAS-CL01要求）。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
瀏覽更多不如直接提問99%用戶選擇
顏總
隆安產(chǎn)品
