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供應(yīng)光衰試驗(yàn)箱廠家,專業(yè)供應(yīng)光衰試驗(yàn)箱

隆安
2025-11-22 14:21:03
753

內(nèi)容摘要：1. 導(dǎo)讀光衰試驗(yàn)箱是高溫老化環(huán)境測(cè)試的核心設(shè)備，選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度均勻性、負(fù)載容量及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標(biāo)準(zhǔn)、具備伺服控制系統(tǒng)的廠...

老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！馬上咨詢

1. 導(dǎo)讀

光衰試驗(yàn)箱是高溫老化環(huán)境測(cè)試的核心設(shè)備，選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度均勻性、負(fù)載容量及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標(biāo)準(zhǔn)、具備伺服控制系統(tǒng)的廠商，并通過(guò)FAT/SAT驗(yàn)收流程規(guī)避質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。

3. 快速答案卡片

問(wèn)題	答案
推薦溫度范圍	80℃~150℃（LED行業(yè)典型值）
核心標(biāo)準(zhǔn)	IEC 60068-2-78、GB/T
關(guān)鍵參數(shù)優(yōu)先級(jí)	溫度均勻性＞負(fù)載容量＞控制精度
采購(gòu)避坑點(diǎn)	拒絕無(wú)FAT/SAT流程的供應(yīng)商

4. 正文結(jié)構(gòu)

試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況

光衰試驗(yàn)箱用于模擬LED、半導(dǎo)體器件在高溫環(huán)境下的光通量衰減過(guò)程，驗(yàn)證材料耐熱性與封裝可靠性。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：

LED燈具老化：測(cè)試1000小時(shí)后光效衰減率≤5%（依據(jù)IEC 62717）
半導(dǎo)體封裝：評(píng)估高溫下焊點(diǎn)蠕變與界面脫層風(fēng)險(xiǎn)
光伏組件：檢測(cè)EVA膠膜在85℃/85%RH條件下的黃變指數(shù)

失效機(jī)理：高溫加速熱應(yīng)力導(dǎo)致材料膨脹系數(shù)失配，引發(fā)微裂紋擴(kuò)展或界面分離。

關(guān)鍵參數(shù)解析

參數(shù)	定義	典型值	行業(yè)要求
溫度均勻性	工作區(qū)內(nèi)各點(diǎn)溫差	±2℃	IEC 60068-2-78
負(fù)載容量	單層可放置樣品數(shù)量	50~200pcs	依試樣尺寸而定
控制方式	伺服（PID）vs 液壓	伺服占90%	伺服響應(yīng)更快
安全聯(lián)鎖	超溫/過(guò)流保護(hù)	必須配置	GB

選型決策流程

明確需求：
- 試樣尺寸（如LED燈珠：10mm×10mm）
- 溫度范圍（推薦120℃±2℃）
- 測(cè)試周期（連續(xù)運(yùn)行≥1000小時(shí)）
技術(shù)驗(yàn)證：
- 要求供應(yīng)商提供第三方校準(zhǔn)證書(shū)（如CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室）
- 實(shí)地考察設(shè)備運(yùn)行案例（優(yōu)先選擇有汽車電子客戶經(jīng)驗(yàn)的廠商）

詢價(jià)模板：
####

供應(yīng)商對(duì)比表

廠商	溫度范圍	濕度范圍	容積選項(xiàng)	控制精度	附加特性
隆安老化	RT~180℃	20%~98%RH	3/ 3	± ℃	遠(yuǎn)程監(jiān)控
韋爾測(cè)試	RT~150℃	不支持	3	±1℃	數(shù)據(jù)追溯
賽寶實(shí)驗(yàn)室	RT~200℃	30%~80%RH	3	± ℃	振動(dòng)疊加

### 5. 采購(gòu)全流程Checklist 1. **需求確認(rèn)**：填寫(xiě)《技術(shù)規(guī)格書(shū)》并由工程師簽字 2. **技術(shù)協(xié)議**：明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如溫度波動(dòng)度≤± ℃） 3. **報(bào)價(jià)對(duì)比**：要求分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備/運(yùn)輸/安裝） 4. **FAT（工廠驗(yàn)收）**： - 測(cè)試溫度均勻性（9點(diǎn)法） - 驗(yàn)證安全聯(lián)鎖功能 5. **SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）**：連續(xù)運(yùn)行72小時(shí)無(wú)故障 6. **計(jì)量校準(zhǔn)**：每年由省級(jí)計(jì)量院實(shí)施（依據(jù)JJF 1101） ### 6. 常見(jiàn)故障與維護(hù)

故障現(xiàn)象	可能原因	解決方案
溫度超調(diào)	PID參數(shù)失調(diào)	重新自整定
加熱管損壞	長(zhǎng)期過(guò)載運(yùn)行	更換并檢查負(fù)載
傳感器漂移	環(huán)境振動(dòng)干擾	每年校準(zhǔn)一次

### 7. FAQ **Q1：光衰試驗(yàn)箱與普通高溫箱的區(qū)別？** A：光衰箱需配備積分球或光通量測(cè)試模塊，且溫度控制精度更高（± ℃ vs ±2℃）。 **Q2：如何驗(yàn)證設(shè)備均勻性？** A：按IEC 60068-2-78要求，在工作區(qū)布置9個(gè)測(cè)溫點(diǎn)，記錄穩(wěn)態(tài)后30分鐘數(shù)據(jù)，計(jì)算最大溫差。 **Q3：國(guó)產(chǎn)與進(jìn)口設(shè)備的差異？** A：國(guó)產(chǎn)設(shè)備性價(jià)比高（價(jià)格低30%~50%），但進(jìn)口設(shè)備（如ESPEC）在長(zhǎng)期穩(wěn)定性上更優(yōu)。 ### 8. 外部參考 - 中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》 - IEC官網(wǎng)“Environmental testing”欄目 ### 9. 聲明 ### 10. JSON-LD